ZYGO+ZMI-2002 8020-0211-1-J

¥11,999.00

** метод измерения :** интерферометрия
– ** диапазон измерения :** варьируется в зависимости от конфигурации (как правило, микроны до миллиметров)
– ** длина волны :** конкретная длина волны лазера (например, 632,8 нм для лазера хене)
– ** разрешение :** высокое разрешение, часто в нанометрах
– ** выходной формат :** цифровой выход данных, совместимый с различными системами данных
– ** размер :** компактная конструкция для легкой интеграции в существующие системы
– ** интерфейс :** USB, Ethernet или другие стандартные протоколы связи

Category:

Description

Модуль ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J обычно ассоциируется с оптическими измерительными системами.

Название продукта:

Модуль ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J

Описание продукта:

ZYGO ZMI-2002 представляет собой усовершенствованный оптический измерительный модуль, предназначенный для применения в высокоточной метрологии. Она использует сложные интерферометрические методы для обеспечения высокоточных измерений контуров поверхности, плоскостности и других оптических характеристик.

### товарные параметры/спецификации:

** метод измерения :** интерферометрия
– ** диапазон измерения :** варьируется в зависимости от конфигурации (как правило, микроны до миллиметров)
– ** длина волны :** конкретная длина волны лазера (например, 632,8 нм для лазера хене)
– ** разрешение :** высокое разрешение, часто в нанометрах
– ** выходной формат :** цифровой выход данных, совместимый с различными системами данных
– ** размер :** компактная конструкция для легкой интеграции в существующие системы
– ** интерфейс :** USB, Ethernet или другие стандартные протоколы связи

Использование продукта:

– ** метрология :** идеально подходит для применения в производстве, полупроводниковой, оптической и материаловедения.
** исследования и разработки :** используется в лабораториях для точного тестирования и обеспечения качества.
– ** профилирование поверхности :** анализирует неровность и текстуру поверхности для контроля качества.

### приложения:

– проверка ваферов полупроводников
– производство плоских панелей дисплея
– испытание оптических элементов
– процессы точной инженерии и контроля качества

ZYGO+ZMI-2002 8020-0211-1-J